Identifikace a screening látek ve forenzní analýze pomocí Plasmion SICRIT iontového zdroje ve spojení s MS detekcí
Altium International ve spolupráci s Plasmionem Vás srdečně zvou na dopolední workshop, ve kterém se dozvíte principy a využití ionizační techniky SICRIT® ( Soft Ionization by Chemical Reaction in Transfer). Tato technika je vhodná pro rychlou kvalitativní i kvantitativní analýzu vzorků bez nutnosti jejich přípravy, a proto nachází využití ve forenzních laboratořích, které chtějí získat velmi rychlou informaci o identitě neznámého vzorku.
Název workshopu: Identifikace a screening látek ve forenzní analýze pomocí Plasmion SICRIT iontového zdroje ve spojení s MS detekcí
Kdy: čtvrtek 5. 2. 2026
Kde: Sídlo Altium International, Na Jetelce 69/2, Praha 9
Přihlašovací formulář zde
V praktické části workshopu Vám potom předvedeme přímou analýzu reálných vzorků pomocí iontového zdroje SICRIT ve spojení Agilent 6475 QQQ MS detekcí a vyhodnocením pomocí SW MassHunter.
Hostem a průvodcem workshopu RNDr. Jan Buček z firmy Plasmion.
Program:
9:00 Přivítání a úvod
9:30 Plasmion GmbH – kdo jsme a co děláme
10:00 SICRIT Technology – aplikační možnosti
10:30 Přestávka na kávu
11:00 – 12:30 Praktická demonstrace iontového zdroje SICRIT a měření vzorků s detekcí Agilent LC/MS QQQ
12:30 Obědové občerstvení
13:00 Závěr a zakončení workshopu
Těšíme se na setkání
Pro další informace kontaktujte:
Jitka Zrostlíková
Manažer obchodu skupiny analytická instrumentace a produktový specialista (LC/MS, GC/MS QQQ, QTOF)
606 047 034
