Visoria M

Özellikler

Ergonomik Tasarımla Daha Konforlu Çalışma

Visoria M, uzun süreli mikroskop kullanımında oluşabilecek boyun, sırt ve omuz zorlanmalarını azaltmak üzere tasarlanmıştır.

Fokus ve tabla kontrollerinin simetrik yerleşimi sayesinde kullanıcı doğal ve rahat bir çalışma pozisyonu koruyabilir. Yüksekliği ayarlanabilir kontrol düğmeleri ve ergonomik aksesuar seçenekleri, farklı kullanıcı ihtiyaçlarına kolayca uyum sağlar.

Mikroskop, tek elle rahatlıkla kullanılabilir ve sağ veya sol el kullanımına hızlı şekilde adapte edilebilir. Bu özellik özellikle cihazın birden fazla kullanıcı tarafından paylaşıldığı laboratuvarlarda önemli avantaj sağlar.

Ergonomik Aksesuar Seçenekleri

Kullanıcı ihtiyaçlarına göre farklı ergonomik çözümler sunulmaktadır:

·      15° ergonomik gözlem tüpleri

·      0–35° eğim açısına sahip ayarlanabilir VarioTube seçenekleri

·      Oküler yüksekliğini ayarlamaya yönelik ErgoModüller

·      Mikroskop yüksekliğini ayarlamaya olanak tanıyan ErgoLift sistemi

Bu aksesuarlar sayesinde görüş açısı, oküler yüksekliği ve genel sistem yüksekliği kullanıcıya özel olarak optimize edilebilir.

Sezgisel ve Kolay Kullanım

Visoria M, günlük laboratuvar işlemlerinin hızlı ve güvenilir şekilde gerçekleştirilmesini sağlayan kullanıcı dostu özelliklerle donatılmıştır.

·      Objektif renk kodları ile uyumlu diyafram işaretlemeleri sayesinde doğru açıklık ayarı kolayca bulunabilir.

·      Dahili fokus limiti sistemi, numunelerin ve objektiflerin kazara zarar görmesini önler.

·      Kaba, orta ve ince fokus mekanizması sayesinde yüksek büyütmelerde hassas odaklama yapılabilir.

·      XY tabla ve fokus kontrolleri tek elle kolayca erişilebilir ve ayarlanabilir yapıdadır.

Dijital Çalışmanın Avantajları

Visoria M'in dijital versiyonu, okülersiz çalışma imkânı sunarak kullanıcı deneyimini yeni bir seviyeye taşır.

Bu sayede kullanıcılar:

·      Görüntüleri doğrudan tablet ekranında inceleyebilir,

·      Daha rahat ve doğal çalışma pozisyonu elde edebilir,

·      Görüntüleri hızlı şekilde paylaşabilir ve tartışabilir,

·      Bilgisayar gereksinimini azaltarak çalışma alanından tasarruf sağlayabilir.

Doğru Kontrast ile Daha Fazla Detay Görün

Visoria M, malzeme inceleme ve Ar-Ge uygulamalarında yüzey yapılarının, mikroyapıların ve kusurların ayrıntılı şekilde görüntülenmesini sağlar.

Desteklenen kontrast yöntemleri:

·      Brightfield (Parlak Alan)

·      Darkfield (Karanlık Alan)

·      Polarizasyon

·      Diferansiyel İnterferans Kontrastı (DIC)

·      Eğik Aydınlatma (Oblique Illumination)

·      Floresan

Özellikle eğik aydınlatma yöntemi, yüzey topografyasının ve ince yüzey kusurlarının daha belirgin şekilde görüntülenmesine yardımcı olur.

Bu sayede çizikler, çatlaklar, kontaminasyonlar, kapanımlar ve yüzey düzensizlikleri yüksek kontrastla incelenebilir.

0.7x Makro Objektif ile Hızlı Genel Görünüm

Opsiyonel 0.7x Makro objektif sayesinde kullanıcılar örneğin genel görünümünden detaylı incelemeye çok hızlı şekilde geçiş yapabilir.

Yaklaşık 36 mm çapında geniş bir görüş alanı sunan bu objektif:

·      Numunenin hızlı değerlendirilmesini sağlar,

·      Tarama sürelerini kısaltır,

·      Büyük örneklerde yön bulmayı kolaylaştırır.

Daha yüksek büyütmeler için geniş objektif portföyü sayesinde numunenin en ince detayları da görüntülenebilir.

Enersight Yazılım Platformu ile Güçlendirilmiştir

Visoria M, Leica'nın Enersight yazılım platformu ile birlikte çalışarak görüntüleme, ölçüm, analiz ve raporlama süreçlerini tek bir arayüz altında birleştirir.

Başlıca Avantajlar

·      Kaplama ve katman kalınlığı ölçümü

·      XY Stitching özelliği ile geniş alan görüntüleme

·      EDOF (Extended Depth of Field) ile artırılmış alan derinliği

·      Quick Brightness fonksiyonu ile optimum görüntü ayarları

·      Düzensiz aydınlatma kaynaklı gölgelenmelerin otomatik düzeltilmesi

·      Farklı kontrast yöntemlerinden elde edilen görüntülerin birleştirilmesi

·      Yarı otomatik ölçüm araçları ile minimum, maksimum ve ortalama kalınlık analizleri

Rutin Malzeme İncelemeleri İçin Geliştirilmiştir

Visoria M ile aşağıdaki örneklerin mikroyapıları detaylı şekilde incelenebilir:

·      Metaller ve alaşımlar

·      Elektronik bileşenler

·      Mekanik parçalar

·      Kompozit malzemeler

·      Cam

·      Seramikler

·      Polimerler ve diğer mühendislik malzemeleri

Enersight yazılımı ile birlikte kullanıldığında kesit analizi, kaplama kalınlığı ölçümü ve malzeme karakterizasyonu çalışmaları da gerçekleştirilebilir.

Optimize Edilmiş Aydınlatma ile Zaman Kazanın

Visoria M'in ışık yönetim sistemi sayesinde büyütme veya kontrast yöntemi değiştirildiğinde parlaklık ayarlarının manuel olarak değiştirilmesine gerek kalmaz.

Kodlanmış sistem yapısı sayesinde uygun aydınlatma parametreleri otomatik olarak uygulanır ve kullanıcı her zaman optimum görüntüleme koşullarına ulaşır.

Dokümantasyon Süreçlerini Basitleştirin

Mikroskop standı üzerinde bulunan görüntü alma düğmesi sayesinde kullanıcı gözünü görüntüden ayırmadan tek tuşla görüntü kaydı yapabilir.

Görüntü kaydedildiğinde:

·      Sistem ayarları otomatik olarak metadata ile birlikte saklanır,

·      Ölçek çubuğu otomatik olarak eklenir,

·      Dokümantasyon süreçleri hızlanır,

·      Tekrarlayan işlemler azaltılır.

Bu sayede hem zaman tasarrufu sağlanır hem de raporlama süreçlerinde tutarlılık artırılır.