CM-3700A Plus
Geçirgenlik ve yan port yansıma ölçümüyle referans niteliğinde, mükemmel doğrulukta üst düzey bir spektrofotometredir.
Özellikler
Dalga boyu analizi ve ayar özelliği, dahili kamera, sıcaklık sensörü, nem sensörü içerir. Numune termometresi sayesinde, renk ölçümünde önemli bir parametre olan sıcaklık kontrolü sağlanır. Cihazın üzerindeki kontrol paneliyle anlık ayar kontrolü yapılabilir. Cihazın içerisinde, aksesuarları muhafaza etmek için ayrı bir alan bulunur. Sektörler: Tekstil, plastik ve diğerleri
Teknik Özellikler
Yansıma açısı: di:8°, de:8° (dağınık aydınlatma/8° görüş açısı) SCI (speküler bileşen dahil)/SCE (speküler bileşen hariç) arasında değiştirilebilir ve aynı anda CIE No.15(2004), ISO 7724/1, ASTM E 1164, DIN 5033 Teil 7 ve JIS Z 8722 koşul c standardına uygundur.
Geçirgenlik açısı: di:0°, de:0° (dağınık aydınlatma/0° görüş açısı) CIE No.15(2004), ASTM E 1164, DIN 5033 Teil 7 ve JIS Z 8722 koşul g standardına uygundur.
Dalgaboyu aralığı: 360 to 740 nm
Ölçüm gözü / Yansıma: SAV, MAV, LMAV ve LAV arasında değiştirilebilir SAV : 3x5 mm ölçüm / MAV : ø8 mm ölçüm / LMAV : ø16 mm ölçüm / LAV : ø25,4 mm ölçüm
Ölçüm gözü / Geçirgenlik: Yaklaşık Ø20 mm / ø25 mm
Tekrarlanabilirlik: ΔE ab 0,005 aralığında standart sapma
Işık kaynağı: Darbeli ksenon ark lambası
UV ayarı: UV-cut özelliği 400 nm'de UV kesme
Kamera: Görüntü, SpectraMagic™ NX2 gibi isteğe bağlı yazılımlar kullanılarak görüntülenebilir/kopyalanabilir. WAA (Wavelength Analysis & Adjustment) Teknolojisi
İlgili Sarf Malzemeler
CM-5
Geçirgenlik ve üst port yansıma ölçümü ve opsiyonlu aksesuarıyla çok y...
CM-36dGV / CM-36dG / CM-36d
Geçirgenlik ve yan-üst opsiyonlu pozisyonlanabilen yansıma ölçümleriyl...
CF-300
Temassız Spektrofotometre ile yansıma ölçümlerinizi hızlandırabilirsin...
CM-3630A
Kağıt, selüloz ölçümlerinde uluslar arası standartlarda ölçümler alabi...
Teknoloji
Renk Ölçümü
Renk; kişinin göz hassasiyeti, yaşı, cinsiyeti ve hatta psikolojik durumuna bağlı olarak kişiden kişiye, bulunduğu ortamın aydınlatmasına ve ışık kaynağına göre, ışığın numunenin üzerine düştüğü açıya, karşılaştırılmak istenen nesnelerin boyut farklılıkları...
Daha Fazla
