Logo
Select Location
  • Bosnia & Herzegovina
  • Czech Republic
  • Croatia
  • Poland
  • Romania
  • Serbia
  • Türkiye
  • United States
  • Azerbaijan
  • Altium Global

Technologia SIFT-MS

SIFT-MS to technika bezpośredniej spektrometrii mas, która wykorzystuje precyzyjnie kontrolowane reakcje chemicznej jonizacji do wykrywania i ilościowego oznaczania śladowych ilości lotnych związków organicznych (VOC) oraz nieorganicznych gazów. Jest to unikalne narzędzie do analizy gazów śladowych, umożliwiające analizę VOC i detekcję związków nieorganicznych w czasie rzeczywistym. Możliwość jednoczesnego oznaczania wielu analitów, wyjątkowa elastyczność analityczna oraz wysoka przepustowość sprawiają, że SIFT-MS jest idealnym wyborem wszędzie tam, gdzie kluczowe znaczenie ma szybkie uzyskanie wyników.

JAK DZIAŁA TECHNOLOGIA SIFT-MS?

Powiązane Produkty
© Altium International - WSZYSTKIE PRAWA ZASTRZEŻONE Ustawienia plików cookie brand