Logo
Select Location
  • Bosnia & Herzegovina
  • Czech Republic
  • Croatia
  • Poland
  • Romania
  • Serbia
  • Turkey
  • United States
  • Azerbaijan
  • Altium Global

Technologia SIFT-MS

SIFT-MS to technika bezpośredniej spektrometrii mas, która wykorzystuje precyzyjnie kontrolowane reakcje chemicznej jonizacji do wykrywania i ilościowego oznaczania śladowych ilości lotnych związków organicznych (VOC) oraz nieorganicznych gazów. Jest to unikalne narzędzie do analizy gazów śladowych, umożliwiające analizę VOC i detekcję związków nieorganicznych w czasie rzeczywistym. Możliwość jednoczesnego oznaczania wielu analitów, wyjątkowa elastyczność analityczna oraz wysoka przepustowość sprawiają, że SIFT-MS jest idealnym wyborem wszędzie tam, gdzie kluczowe znaczenie ma szybkie uzyskanie wyników.

JAK DZIAŁA TECHNOLOGIA SIFT-MS?

Powiązane Produkty

© Altium - WSZYSTKIE PRAWA ZASTRZEŻONE brand

Cookie & Privacy Consent


We use cookies to personalize content, to provide social media features, to analyze our traffic, and to improve your browsing experience. These cookies may collect information about your device, preferences, or your browsing session. For more details, you can review our Cookie Policy

Some cookies are essential for our website to function properly (Essential Cookies). Others are used for marketing and statistical purposes, helping us understand how our services are being used so we can improve them.

Read Our Cookie Policy

Cookie Settings

Essential Cookies
Marketing Cookies
Statistical Cookies

Please note that Essential Cookies are always enabled as they are required for the website’s basic functions. Marketing and Statistical cookies may be toggled off, but it might affect your browsing experience.